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          吉時利2410測量電鏡中的被測件(如何去除積累電荷對測量的影響)

          更新時間:2019-07-11       點擊次數:1852

          吉時利2410 SourceMeter SMU 儀器,測量電鏡中的被測件(如何去除積累電荷對測量的影響)

          問題:

          吉時利2410 SourceMeter SMU 儀器,測量電鏡中的被測件(如何去除積累電荷對測量的影響)

          回答:

          4200系統測量時可以直接進行處理使得電荷放電至地點。
          單臺源表做類似測量時,先加載0V電壓源測量I,將線路導通放電;延遲一段時間后,在加載需要的電壓進行正常的測量。

          此常見問題適用于:

          Product Series: Keithley SMU 2400 圖形系列 SourceMeter2400 系列 SMU

          Product: 2400

          常見問題ID : 473396

           

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